ZeeCam 3D相机（三维立体显微镜3D相机）
ZeeCam 由ZeeCam光学部件和内置的数字相机一体化组成。通过显微镜C-MOUNT 接口，扩展出强大的3D图像平台。ZeeCam兼容通常的工业、材料显微镜和立体显微镜，可广泛应用于工业质量控制和材料科学。实现：3D表面分析和测量、形貌和粗糙度测量、自动深度叠加、景深扩展等功能。
ZeeCam功能特点：
1、无需移动物镜或载物台，样品空间保持完全自由
2、没有运动部件，避免了样品震动或扰动
3、ZeeCam通过C-MOUNT视频接口连接到显微镜，无需改造显微镜和其他额外的配件
4、ZeeCam内置了高分辨率数字相机
ZeeCam用于正置显微镜 ZeeCam用于立体显微镜
高分辨率数字相机 ZeeCam能提供清晰明快的高分辨率数字图像 |
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多种图像功能 自动聚焦 深度测量 Z轴图像序列 景深扩展 三维重建 ZeeCam能完成标准的正置或倒置显微镜的所有材料应用的关键任务 |
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3D 表面测量 面形 表面粗糙度 波浪 阶梯高度 与复杂、笨重和昂贵的系统相比，ZeeCam是一种快速而廉价的表面形貌测量方法 |
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GetPhase软件
GetPhase® 软件支持Windows 8, 7, XP & Vista.
GetPhase 提供图像自动采集，2D/3D 图像分析，文档和报告等工具
图像获取和处理 | 2D/3D图像显示和分析 | 图像数据输出和报告 |
自动聚集和曝光 感兴趣区域 导航 | 明场、暗场、相差、DIC、3D浏览 文字和图像叠加 2D/3D测量 图像融合 ISO粗糙度标准 梯度测量 | 项目存档 Excel格式3D数据 第三方软件的3D数据 报告编辑 HTML兼容报告 |
强大的图像工具
图像浏览和显示
高分辨率Z轴图像序列，可完美的用于自动图像融合（景深扩展），深度测量或3D重建。
2D测量和图像记录、报告
快速精确的3D表面测量
ZeeCam非常快速和简单的方法实现3D图像获取和测量。非接触式光学表面分析具有高度可重复性：
微米或纳米级3D表面分析
具有从光滑到粗糙表面的测量能力
ISO粗糙度和阶梯高度测量
高效的图像获取和处理
ZeeCam性能参数
ZeeCam参数
数字相机 | ZeeCam 100 | ZeeCam 150 | ZeeCam 200 |
Camera ½”CMOS 1280 x 1024 5.2μm square pixels 30fps@full resolution | 1/1.8”CCD 1616 x 1216 4.40 square pixels 12fps@full resolution | ½”CCD 2560 x 1920 2.20 square pixels 6fps@full resolution |
显微镜接口 | 推荐1C C-MOUNT视频接口 |
计算机接口 | USB2.0 |
电源 | 110/220v AC |
物理尺寸 | ZeeCam：155(H) 80(W) 56(D)，控制器：40(H) 158(W) 150(D) |
重量 | ZeeCam：375g 控制器：150g |
3D测量参数
物镜 | Z轴范围（um） | Z轴分辨率（um） |
5X / 0.10 10X / 0.25 20X / 0.45 50X / 0.8 | 640 160 40 6.4 | 0.32 0.08 0.02 0.003 |
Z轴扫描范围和分辨率由物镜和C-MOUNT接口综合放大倍率决定。左侧为标准物镜放大倍数和1X C-MOUNT接口下的的参数。
对于其他物镜放大倍数或C接口放大倍数，遵循以下公式：
Z轴范围=16mm/ (G_Obj * G_adapt)²
Z 分辨率=物镜景深/4
※G_Obj= 物镜放大倍率，G_adapt =C接口放大倍数
精度：1%， 重复性：0.35%， 最大斜率：90°
X、Y空间分辨率取决于相机分辨率和物镜放大倍数
粗糙度测量参数
共12项分析参数，包括经常使用的Ra (Sa), Rq (Sq), Rz(Sz)参数。符合ISO 4287、25178、DIN4768标准。
测量范围：Ra, Rq: 0.01-500μm
测量精度：≤±10%
重复性：≤6%
