ZeeScope 完整的3D数字显微镜(三维显微镜)
ZeeScope特点
○内部集成了ZeeScan一体化数字3D显微镜，携带方便。
○没有移动部件，样品空间保持完全自由，避免样品震动或扰动
○不需要昂贵的附件
○软件用户界面友好
应用领域：金相学 印刷 考古 教育 电子学 博物馆 汽车工业 航空工业 地质学 电子
现场质量控制
现场检验
R&D实验室
品质实验室
工厂分析工具
机器视觉3D相机
自动化视觉检查
表面测量，3D形貌，粗糙度，腐蚀分析，深度测量，表面探伤
高分辨率数字显微镜 ZeeScope提供清晰明快的实时高分辨率数字图像，满足高分辨率数字图像文档的所有需求 |
|
多种图像功能 自动聚焦 深度测量 Z轴堆栈 景深扩展 三维重建 内部集成ZeeScan，ZeeScope能完成标准的正置或倒置显微镜的所有材料应用的关键任务。 |
 |
3D 表面测量 面形 表面粗糙度 波浪 阶梯高度 与复杂、笨重和昂贵的系统相比，ZeeScope是一种快速而廉价的表面形貌测量方法 |
 |
GetPhase软件
GetPhase® 软件支持Windows 8, 7, XP & Vista.
GetPhase 提供图像自动采集，2D/3D 图像分析，文档和报告等工具
图像获取和处理 | 2D/3D图像显示和分析 | 图像数据输出和报告 |
自动聚集和曝光 感兴趣区域 导航 | 明场、暗场、相差、DIC、3D浏览 文字和图像叠加 2D/3D测量 图像融合 ISO粗糙度标准 梯度测量 | 项目存档 Excel格式3D数据 第三方软件的3D数据 报告编辑 HTML兼容报告 |
强大的图像工具
图像浏览和显示
高分辨率Z轴图像序列，可完美的用于自动图像融合（景深扩展），深度测量或3D重建。
2D测量和图像记录、报告
快速精确的3D表面测量
ZeeCam非常快速和简单的方法实现3D图像获取和测量。非接触式光学表面分析具有高度可重复性：
微米或纳米级3D表面分析
具有从光滑到粗糙表面的测量能力
ISO粗糙度和阶梯高度测量
高效的图像获取和处理
ZeeScope性能参数
ZeeScope参数
| ZeeScope100 | ZeeScope150 | ZeeScope200 |
| ½”CMOS 1280 x 1024 5.2μm square pixels 30fps@full resolution | 1/1.8”CCD 1616 x 1216 4.40 square pixels 12fps@full resolution | ½”CCD 2560 x 1920 2.20 square pixels 6fps@full resolution |
光源 | 内建同轴LED光源 |
物镜 | 可互换物镜（有限远或无限远物镜），附RMS螺纹和M25*0.75适配器 |
体积和重量 | ZeeScope ；225(H) x 40 (W) x 55(D) mm, 425g 控制器：40(H) 158(W) 150(D) mm 150g |
电源 | 110/220V AC |
计算机接口 | USB2.0 |
3D测量参数
物镜 | Z轴范围（um） | Z轴分辨率（um） |
5X / 0.10 10X / 0.25 20X / 0.45 50X / 0.8 | 2400 600 150 24 | 18.5 3 1 0.25 |
Z轴扫描范围和分辨率由物镜放大倍率决定。左侧为标准物镜放大倍数的参数。
对于其他物镜放大倍数，遵循以下公式：
Z轴范围=16mm/ (G_Obj)²
Z 分辨率=物镜景深/4
※G_Obj= 物镜放大倍率，G_adapt =C接口放大倍数
精度：1%， 重复性：0.35%， 最大斜率：90°
X、Y空间分辨率取决于相机分辨率和物镜放大倍数
粗糙度测量参数
共12项分析参数，包括经常使用的Ra (Sa), Rq (Sq), Rz(Sz)参数。符合ISO 4287、25178、DIN4768标准。
测量范围：Ra, Rq: 0.01-500μm
测量精度：≤±10%
重复性：≤6%
