DT2000 显微粒度测量系统是将现代图像分析技术结合显微镜，将放大的颗粒图像采集到计算机，由软件自动对颗粒的粒度和形状因子进行分析和计算，生成测量结果。测量过程直观可靠、并可同时观察颗粒形貌。 测量及数据输出： 可以测量颗粒数量、粒径、圆度、最大最小直径等多种参数，并可对这些数据进行处理、分析和统计。数据可以传输到 EXCEL ，便于进一步处理。 统计图表： 可以生成粒度分布表、粒度累积分布图和微分分布图。 准确测量： 为了提高测量数据的准确性和曲线精度，可做多视场测量。应用颗粒切分和过滤可进一步提供测量准确度。

粒度分布曲线